K-XRAY Rotomat KT是一款適用于吹膜生產線在線測厚的系統,可實時測量薄膜厚度。其產生的19千電子伏特強度X射線,即使在極薄薄膜上也能實現高分辨率厚度測量。
憑借這些獨特特性,K-XRAY Rotomat KT成為測量阻隔薄膜的解決方案。
即使面對極薄且具有觸感功能的阻隔膜,K-XRAY Rotomat KT傳感器的測量精度依然能夠實現高分辨率厚度檢測。該技術基于X射線后向散射原理,并采用溫度可控的氣墊系統。通過搭載專利彎曲臂的振蕩掃描儀,該設備能夠以快速度直接在阻隔膜生產線的氣泡上測量厚度分布曲線。
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產地 |
瑞士 |
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電氣接口 |
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電源 |
110-240 VAC,50/60 Hz 或 24VDC |
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功耗 |
max100 VA |
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厚度測量 |
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測量原理 |
電容式厚度傳感器(適用于任何非導電材料) |
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測量頻率 |
1 MHz |
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測量范圍 |
10至300 µm(300 µm以上可定制) |
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測量間隔 |
50毫秒 |
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分辨率 |
0.1微米 |
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校準后精度 |
10至30微米區間:±0.5微米 |
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30微米以上:±2% |
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校準厚度范圍內線性度(±10%) |
優于2% |